基本信息
标准名称: | 锗单晶少数载流子寿命直流光电导衰退测量方法 |
中标分类: | 冶金 >> 金属理化性能试验方法 >> 金属物理性能试验方法 |
替代情况: | 被GB/T 1553-1997代替 |
发布日期: | 1900-01-01 |
实施日期: | 1986-07-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
出版日期: | 1900-01-01 |
页数: | 5页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类: 冶金 金属理化性能试验方法 金属物理性能试验方法